科學家在改善納米結構的成像方面取得突破

一組研究人員已經證明了量子物理學在測量兩個光子之間的時間延遲時所允許的終極靈敏度。通過頻率分辨採樣測量來測量它們在分束器上的干擾，該團隊已經證明，在當前技術中可以達到前所未有的精度，估計誤差可以通過降低光子時間帶寬進一步降低。<br />
這一突破對一系列應用具有重大意義，包括更可行的納米結構成像，包括生物樣品和納米材料表面，以及基於光網路中頻率分辨玻色子採樣的量子增強估計。<br />
這項研究是由朴茨茅斯大學的一組科學家進行的，由該大學量子科學和技術中心主任Vincenzo Tamma博士領導。研究結果發表在《物理評論應用》雜誌上。<br />
Tamma博士說：「我們的技術利用了在分束器輸出通道測量時，當兩個單光子撞擊分束器的兩個面時無法區分時發生的量子干涉。如果在撞擊分束器之前，一個光子通過樣品或被樣品反射而相對於另一個光子在時間上延遲，則可以通過探測分束器輸出處光子的量子干涉來實時檢索這種延遲的值，從而檢索樣品的結構。